べベル研磨モニタセンサシステム
窒素Si膜の吸収波長650nm近傍と非吸収波長780nm近傍の2波長を用いて窒素膜研磨度をモニタするシステムです。

投光系
吸収波長：658nm
非吸収波長：785nm
2波長合波モジュールを搭載
内部には投受光用のファイバコリメータを搭載しております。

受光用
レーザガイドファイバ(100×150×6心)(投光系と同心状に構成する)
2波長分波モジュール
658nm側光/電気コンバータ(出力：0～5V)
785nm側光/電気コンバータ(出力：0～5V)

詳細

◆2波長を1本のファイバにそれぞれ周波数の違う信号を乗せてSMで合波し出射します。
◆200μファイバ6本で反射光を受光し、650nmと780nmに分派しそれぞれの波長の反射光をモニタします。反射光は電気変換され BNC等のコネクタに出力されます。
◆それぞれの波長の信号に反応するようになっており、本体出射光ではない光に反応しないようになっております。
◆温調機能がついております。
◆SMファイバを繋ぐことで、SM光源装置としてもご使用になれます。
◆受光感度は付属のボリュームを使用し任意で調整できます。
◆波長は任意で設定できます。